1. Atomic force microscopy/scanning tunneling microscopy 3
پدیدآورنده : edited by Samuel H. Cohen and Marcia L. Lightbody.
کتابخانه: Center and Library of Islamic Studies in European Languages (Qom)
موضوع : Microscòpia d'escombratge per efecte túnel.,Microscòpia electrònica de rastreig.,Microscòpia electrònica d'escombratge.
رده :
QH212
.
A78
E358
2002
